大厚度比試件的無損檢測透照技術

射線透照常規工藝允許試件有一定的厚度差異，在射線底片上所能顯示的厚度范圍，就稱為RT厚度容度。但若試件厚度差過大，就會透照質量失效，要解決此問題，必須采用一些特殊工藝或技術措施。

試件厚度差異的大小可用試件厚度比來衡量，試件厚度比可定義為一次透照范圍內試件的Z大厚度與Z小厚度之比，用Ks表示。當Ks大于1.4時，可以認為屬于大厚度比試件。實際工作中的大厚度比試件包括余高較高的薄板對接焊縫試件、小口徑管試件、角焊縫試件，以及一些形狀較復雜的機械零件。

大厚度比對射線照相質量的不利影響主要表現在兩個方面：一是因試件厚度差較大導致底片黑度差較大，而底片黑度過低或過高都會影響射線照相靈敏度。二是因試件厚度變化導致散射比增大，產生邊蝕效應。

對大厚度比試件透照的特殊技術措施包括適當提高管電壓技術、雙膠片技術和補償技術。

【適當提高管電壓技術】

適當提高管電壓是透照大厚度比試件Z常采用的，也是Z簡便的方法。

隨著管電壓的提高，底片上不同部位的黑度差將減小，這樣，在規定的黑度范圍內，可以容許更大的試件厚度變化范圍，即提高管電壓可以獲得更大的透照厚度寬容度。此外，對厚度變化的試件透照，提高管電壓可以減小散射比，降低邊蝕效應。但是射線能量提高后，衰減系數μ減小，從未會導致對比度減小，這一點對射線照相靈敏度不利。因此，管電壓不能任意提高，究竟管電壓提高多少比較合適，這是確定具體透照工藝需要研究的問題。

【雙膠片技術】

對厚度差較大的工件，可以采用在一只暗盒里放兩張膠片同時透照的雙膠片技術。

暗盒里放置的兩張膠片一般應選用感光度不同的兩種膠片（異速雙片法），其中感光度較大的膠片適用于透照厚度較大部位的觀察評定。另一種是在暗盒中放置感光速度相同的兩張膠片（同速雙片），管片方法是對黑度較小部位，將雙片重疊觀察評定，對黑度較大部位，用單片觀察評定。

【補償技術】

補償技術時指用補償塊、補償粉、補償泥、補償液等填補工作澆薄部分，使透照厚度差減小的方法，焊縫照相可使用厚度補償塊，形狀不規則的小零件照相可使用流質吸收劑（醋酸鉛加硝酸鉛溶液），或金屬粉末（鐵粉或鉛粉）作為厚度補償物。